Fotografía por Gabiele Photography

AFM

La microscopía de fuerza atómica, AFM por sus siglas en inglés (atomic force microscopy), es una técnica utilizada para obtener las propiedades físicas de las superficies a un nivel nanométrico, tales como: tamaño de grano, rugosidad, propiedades elásticas, fricción, y piezo-ferro-electricidad. Esta técnica permite obtener la topografía en 3D de la superficie de una muestra. La técnica de AFM consiste en un brazo mecánico, llamado cantiléver, el cual tiene en un extremo una punta muy pequeña en forma de pirámide la cual es arrastrada a lo largo de la superficie de la muestra. Sobre el cantilever incide un rayo láser, el cual detecta los finos cambios de posición del cantiléver generados por la superficie de la muestra y envía la información a un fotodetector, finalmente los resultados son procesados y mostrados en una gráfica que refleja la morfología de la superficie de la muestra.

En SAOMLab podemos realizar la caracterización de muestras sólidas para:

Determinar propiedades mecánicas, eléctricas y magnéticas.
Diferenciar los materiales que componen una muestra, así como su distribución, por medio de la diferenciación de sus propiedades elásticas.
Brindar un mapa detallado y de muy alta precisión de la composición de la muestra.
Análisis topográfico de muestras biológicas.

Todo lo que es requerido es una pequeña muestra en forma de bulto o película delgada para usar en AFM y nuestro equipo de expertos hará el trabajo por ti. Por favor no dude en contactarnos para encontrar juntos la mejor manera de ayudarle a resolver su problema.