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Cursos

  • Recubrimientos interferenciales opticos 
  • Propiedades ópticas de materiales
  • Principios de elipsometría
  • Microscopia de Fuerza Atómica: Análisis de imágenes
  • Sistemas de vacío
  • Teoría y aplicaciones de láseres
  • Diagnóstico de plasmas mediante técnicas no invasivas: Espectroscopía óptica, interferometría, fotografía de sombras

 

 

 

 

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Tecnología de punta para depósito de películas delgadas, análisis espectroscópico y ablación láser. Información técnica acerca de los elipsómetros, espectrómetros, lásers, máquinas para AFM, y depósito de películas delgadas disponible en SAOMLab.

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