Sputtering
El objetivo es combinar diferentes materiales los cuales poseen ciertas características y obtener un nuevo material el cual interactúa con la luz de una manera determinada. Esto es posible al extraer átomos de un material conocido como un blanco para luego ser depositados en un substrato formando una capa en la superficie del substrato. Lo anterior puede ser repetido las veces que sea necesario hasta que se obtenga el número óptimo de capas. El conjunto de todas las capas es conocido como película delgada, la cual es en realidad un material el cual posee las características deseadas.
Ablación Láser
La ablación láser es el proceso en el cual se elimina material de una muestra al enfocar un laser pulsado en ella. El sistema de láser usualmente emite desde cerca de las regiones de infrarojo hasta ultravioleta del espectro electromagnético; se necesita tener pulsos con duración de unos cuantos nanosegundos para alcanzar una potencia de algunos GWatts por centímetro cuadrado.
Espectroscopía
Si la luz emitida por un objeto pasa por un prisma es separada en un grupo de colores. Todos estos colores pueden ser medidos como la intensidad de radiación en función de la longitud de onda y forma lo que se conoce como el espectro electromagnético. Al referirse a los elementos químicos de la tabla periodica encontrarémos un grupo de colores único para cada elemento.
Elipsometría
La elipsometría es una técnica utilizada para analizar las propiedades opticas de las películas delgadas, como son su composición, permitividad dieléctrica, y el grosor de las capas de materiales. El proceso para obtener los parámetros elipsométricos ocurre cuando una película delgada se coloca en un elipsómetro, un rayo de luz incide en la muestra y es reflejada con un ángulo en particular el cual revela información acerca de su composicion estructural y óptica.
AFM
La microscopía de fuerza atómica, AFM por sus siglas en inglés (atomic force microscopy), es una técnica utilizada para obtener las propiedades físicas de las superficies a un nivel nanométrico, como: aspereza, propiedades de elasticidad, fricción, y piezo-ferro-electricidad. Esta técnica permite obtener la topografía en 3D de la superficie de una muestra. AFM consiste en un brazo mecánico el cual tiene una punta muy pequeña en forma de pirámide llamada cantilever la cual es arrastrada a lo largo de la superficie de la muestra.
Consultoría tecnológica
El grupo de expertos del SAOM-Lab combina capacidades científicas con una vasta experiencia en el campo de los nanomateriales, orientados principalmente a las aplicaciones ópticas. Así, ofrecemos una gama de servicios que van desde el análisis de procesos, la identificación de problemáticas e implementación de mejoras, hasta el desarrollo completo de soluciones llave en mano.
Teléfono
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Tecnología de punta para depósito de películas delgadas, análisis espectroscópico y ablación láser. Información técnica acerca de los elipsómetros, espectrómetros, lásers, máquinas para AFM, y depósito de películas delgadas disponible en SAOMLab.
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